無線電吸波暗室的反射電平（上）

高選正

【摘 ? ?要】給出了天線方向圖比較法和自由空間電壓駐波比法兩者的對照，這2種方法可用于評估無線電吸波暗室的反射電平。在分析這2種方法之后，指出了哪些參數會影響反射電平的測量值。通過實驗結果的對照，揭示了為什么在采用這2種方法時會得到不盡一致和不相關聯的結果，進而還表明當吸波暗室性能獲得改進之后，如何利用反射電平來衡量這種改進?；谀壳暗难芯砍晒?，描述了吸波暗室性能的評估步驟。同時，還通過舉例指出有必要開展進一步的研究，以便歸納出滿意的評估步驟。

【關鍵詞】吸波暗室 ? ?反射電平 ? ?天線測量 ? ?遠場

中圖分類號：TN929.5 ? ?文獻標識碼：A ? ?文章編號：1006-1010（2014）-22-0031-06

Reflectivity Level of Radio Anechoic Chambers

GAO Xuan-zheng1， FU De-min2

（1. Xi'an Branch Academy， China Academy of Space Technology， Xi'an 710061， China;

2. Xidian University， Xi'an 710071， China）

[Abstract]A comparison between the antenna-pattern comparison technique and the free-space voltage standing-wave ratio technique for evaluating the reflectivity level of radio anechoic chambers is presented. Based on an analysis of the two techniques， it is pointed out which parameters influence the measured value of the reflectivity level. The comparison is illustrated with experimental results and it is explained why inconsistent and uncorrelated results may be found when the two methods are used. Furthermore， it is demonstrated， by introducing improvements in a chamber， how the reflectivity level can be used to measure the improvements. This work is inspired by the current discussion of finding a figure of merit for anechoic chambers. Based on the results， an evaluation procedure for anechoic chambers is indicated. However， it is pointed out and illustrated by examples that further investigations are necessary before a satisfactory procedure can be outlined.

[Key words]anechoic chambers ? ?reflectivity level ? ?antenna measurement ? ?far field

1 ? 導論

五十年代初期，第一個無線電吸波暗室問世，隨后天線和散射研究不斷發展，對室內測試場的關注也與日俱增。無線電吸波暗室的優點在于可以通過明確可控的條件進行天線測量，例如：測試過程不再受天氣的限制;測試區域基本消除了反射信號;外來干擾信號得到了有效屏蔽。

從第一個吸波暗室開始，為了獲得更好的吸波性能和更高的測量精度，人們一直饒有興趣地研究表征吸波暗室品質因素的方法。一般來說，對于不同的測量類型，有必要使用不同的求解品質因素的方法。本文討論了用于天線方向圖測量的無線電吸波暗室的品質因素主題。品質因素即為反射電平，同時它也表征著方向圖電平的測量誤差，而這些測量誤差的來源包括：鋪設有吸波材料的吸波暗室墻壁、地板、天花板，它們都存在無可避免的小量反射。

眾所周知，吸波暗室的構建可以有很多種，被測天線的輻射特性也是千差萬別的。因此，在各種情況下，想只用反射電平一個參數來評估測量精度也許是不可能的。由于問題的復雜性，建議通過多種不同的方法來獲取反射電平。前人的工作包括：Hiatt等人[1]給出了有關吸波暗室前十年最重要的評估方法綜述，自從他們給出數據和曲線用于設計及分析吸波暗室性能以來，有3種方法認為比較滿意。此后的進展表明，這3種方法中有2種為公眾所認可，分別是天線方向圖比較法（APC法）和自由空間電壓駐波比法（VSWR法）。常有人認為這2種方法本質上是一樣的，但目前還缺少實驗驗證[1-2]。Rethmeyer和Price[3]建議采用上述2種方法的組合。但Kummer和Villeneuve[4]對2種方法作了對照，發現得到了不一致的結果。Hiatt等人[1]使用APC法并采用吸波材料鋪設吸波暗室的模型評估了反射電平，他們發現所得的反射電平和吸波率之間的關聯性較小。為了充分照射所有的吸波暗室墻面，Clarke和Breithaupt[5]在他們的吸波暗室VSWR法評估中采用了檢波裝置和帶有波導同軸轉換法蘭盤的天線。事實上，由于反射電平所得結果很依賴于天線增益，Hollman[6]建議釆用具有全向方向圖的探針天線來完成不同的吸波暗室之間的性能比較。endprint

本文有三個目的：第一個目的是給出APC法和VSWR法的對照。在給出對照之前，首先討論求解反射電平的基本問題;然后詳細描述這2種方法，給出前述的不一致性和不相關性的可能理由。實驗進一步表明，如果使用恰當，這2種方法提供的結果本質上沒有差別。本文作者報告了這種早期比較的某些工作[7]，但這只能算是實驗室的報告，因為它省略了應用這種方法的某些問題。第二個目的是表明這種方法可用于評估無線電吸波暗室的改進。第三個目的是描述反射電平評估的技術狀態。

還應該指出，在得到反射電平有價值的詳細信息之前，作者已做了有關反射電平與測試參數關系的很多有意義的工作。但愿讀者們能廣泛地吸取這些背景知識，并應用于制定吸波暗室的規范，從而評估其測量誤差的精度。另外，對于要評估暗室測試場地的人們來說，可根據他們的要求，處理好他們的測試程序。本文還將通過一些例子來闡明反射電平測量值與哪些參數相關，這是十分有益的一件事。

2 ? 基本考慮

從基本考慮出發，先觀察如圖1所示的通用測試裝置。在吸波暗室的一端墻面附近放置發射天線，天線方向圖的主瓣指向吸波暗室的軸線方向。接收天線放置在此軸線上，與發射天線保持適當距離。通常接收天線可以按不同的方式做出旋轉，以記錄輻射方向圖。另外，為了實現本文所述的實驗，接收天線的支撐體必須是可以移動的。

圖1 ? ?記錄方向圖的通用設備

當發射天線輻射時，空間各點存在的信號由來自發射天線的直射信號Ed和來自吸波暗室表面的反射信號Er所組成。在通常的情況下，直射信號的大小取決于與發射天線分開的距離，而反射信號的大小隨采樣點的位置而改變，所以情況比較復雜。這種復雜的變化是由于墻上的每一點和吸波暗室中的其它物體都會反射信號。另外，入射信號的組成包括來自發射天線的信號以及來自吸波暗室墻面各點的反射信號，甚至來自接收天線的反射信號。

在吸波暗室的測量中，反射信號會引起測量誤差。在吸波暗室中尋找Er和Ed所構成的總干涉圖形屬于復雜的繞射問題，做理論上的誤差評估時應避免這一點。為了用實驗來確定誤差，需要耗費很多的時間，這是因為反射場的測量需要有足夠多的點，然后才有可能在這些指定區域內的每一個點上導出Ed和Er的相消或相加的干涉圖形。這個區域是實際進行實驗的工作區間，也即吸波暗室的所謂靜區。靜區就是吸波暗室內電場均勻性滿足規范要求的空間區域，其尺寸范圍由靜區中心和邊緣的電場Ed的幅度及相位差別的量級來決定，其“靜度”取決于吸波暗室墻壁的反射電平量級。

可以用反射功率密度與直射功率密度之比來作為靜區某一點反射能量的量度。由于上述反射信號的復雜變化，造成了這個比值各點的變化。要得到比值變化的完整圖形，需要耗費很多的測試時間。另外，由于吸波暗室中的反射場是來自吸波暗室各點的反射場的矢量和，所以不可能用記錄天線方向圖的通用測試設備來確定反射場的大小。如圖2所示，為了簡化，假設只有一個幅度為Er的反射信號以及一個幅度為Ed的直射信號，令反射信號的傳播方向沿接收天線軸線并與發射天線構成夾角ν。接下來的章節將會清晰地顯示，Er和Ed的比值可通過移動接收天線所記錄的相消或相加的干涉圖形來確定。但是由于反射場不止一個，所以它并不能表示所確定的反射場的大小，因為圖2中很明顯存在Er不沿接收天線軸線傳播的情況。實際確定的Er是個等效信號，它是沿接收天線軸線傳播時引起的變化的觀測值，通常稱為反射信號。

圖2 ? ?評估吸波暗室的實驗安排

求解等效信號的重要性需要繼續討論。如前所示，等效信號并非反射總場的大小。而當取得圖形時，它顯示了出現誤差的大小。從下一節來看，等效信號顯然是由觀察記錄圖形的極限來獲取的。

應該注意，當記錄不同位置的接收天線方向圖時，對于發射和接收天線的不同距離，方向圖的變化存在三方面的影響：第一個影響是前述的反射信號與直射信號之間的相消或相加干涉;第二個影響是直射信號或反射信號本身幅度的變化;第三個影響是記錄的方向圖的變化，其影響來自于以平面波照射的接收天線的遠場條件，該遠場條件有可能只在一定的程度上得到滿足，它取決于測試場的長度。下一節將會看到，第一個和第二個影響將會根據實際工程以不同的方式加以考慮。而根據作者的知識，在評估測試場時第三個影響總是加以忽略。要做到這一點，測試天線之間的距離應該足夠大。遠場條件的最小距離由天線尺寸和工作頻率來確定。但是，在某些情況下，第三個影響可能會導致反射電平的變化，此時該因素不能被忽視。這是由于只有滿足遠場條件，才能保證天線方向圖記錄達到一定的精度。

如第1節所述，只用一種特性來描述吸波暗室的性能存在困難，所以產生了幾種測試方法。采用一些測試參數來描述測試過程和實驗方案，可得到相應的測試結果，各種方法莫不如此。在討論反射電平與測試參數的關系之前，以及在為測試過程提出方案之前，先考慮2種常用的方法，即APC法和VSWR法。

為了說明這2種方法的差別，參考圖3和圖4所示。為簡化起見，建議忽略Ed隨距離的變化，并假定發射天線為全向性點源。還設定平面波反射源只有一個，且對主瓣方向圖的影響可以忽略，即影響小于0.1dB。由圖3可以看出，如果在位置A和B疊加記錄的方向圖，則在方位角v所檢測到的反射能量就會改變。另一方面，由圖4可以看出，在接收天線連續移動時，如果試圖保持檢測的反射電平不變，則在方向圖掃描時檢測到的入射信號電平就會改變。

通過上述2種情況來嘗試評估反射對方向圖電平的影響。事實上，這2種方法就是APC法（圖3）和VSWR法（圖4）。在進行方法的對照之前，接下來就給予這2種方法的詳細描述，并考察相關結果。

3 ? 天線方向圖比較法

3.1 ?理論

采取通用的測量裝置，在橫貫靜區的釆樣線上從一些離散的點記錄接收天線的方向圖，由此得到小量波動的變化曲線。根據這些波動變化的量級，可以確定出方向圖的測試誤差。endprint

再考慮圖2的情況，只取一個反射信號，假設方向圖電平（單位為dB）在角度v上為a，令直射信號Ed、反射信號Er分別同相和反向，令檢測到的場為b、c，則有：

（1）

（2）

（3）

其中，R為反射電平，即反射信號與直射信號之比（單位為dB）。為了得到b和c，將所有實測方向圖疊加到一起，使它們的主瓣峰值電平彼此重合，參見圖5。采用這種方式就可以得到極限值b和c，然后根據文獻[7]和[8]中的曲線或表格，即可計算出R值。根據前述設定可以理解，R不是被測空間內的反射總能量與入射總能量之比，但它與這個比值有某種復雜的相關性。進一步，由于R是方向圖隨接收天線位置變化的度量，因此可用于表征吸波暗室的性能。

圖5 ? ?天線方向圖比較法的測試圖形示范

根據上述討論，所得到的R值很明顯地與推導時所處的方向圖電平位置有關。在APC法中，R值往往以不同的方式取平均，這與操作的工程師有關。由于R值表征了吸波暗室中方向圖的測量精度，所以R的最大值就意味著最大的測試誤差，暗室所宣稱的測量精度水平也就由此給出。

除了R有不同的方式求取平均之外，方向圖的疊加方式也有不同。這主要是由于在測量期間，可以釆用以下的一種或兩種調整方式：

（1）通常的測試安排為圖紙上的0度相應于接收天線指向平行于吸波暗室軸線。也可能按某種方式來調整方向圖記錄，使圖紙上的0度相應于接收天線指向發射天線。在文獻[3]中描述了當接收天線移動和偏離吸波暗室軸線并作調整的情況。在反射的量級很大時，主瓣的方向會發生改變，于是需要做出調整以避免記錄的方向圖出現不正確的疊加。

（2）在測量期間，通過改變接收機的增益，不同方向圖的主瓣在圖紙上調整到了相同電平。調整的目的是認為天線方向圖掃描和天線間距離的變化并不改變直射信號。應該注意，在反射很大并足以影響到主瓣的情況時，這樣的調整不能達到目的。通過在吸波暗室軸線連續移動接收天線來檢測主瓣電平，可以觀察到大反射的情況。如果觀察到的波動明顯達到零點幾個分貝，就屬于大反射。在這種情況下，VSWR法作為一種更好的方法被推薦為用于檢測反射電平。

進行上述調整的意義在文獻中還沒有見到研究。很明顯，調整對最終結果的影響程度取決于實驗裝置以及反射電平的幅度。接下來將描述常用的測量過程。

3.2 ?實驗過程

采用APC法評估了尺寸為2×4×4m3的吸波暗室，在10GHz頻率，使用了典型的16dBi標準增益天線，在發射采用垂直極化時測試方位方向圖。通過在吸波暗室軸線移動被測天線來測量主瓣電平，觀察到由于反射引起的振蕩小于0.2dB。接收機增益做了調整，使不同方向圖的主瓣電平在圖紙上有相同的電平。在分析中，讓主瓣彼此覆蓋來疊加顯示所記錄的方向圖，記錄方向圖的測試點位取自垂直于接收天線和發射天線連線的水平線。測試點位的間隔取半個波長，共記錄了17個離散點位的方向圖。其中，暗室軸線上有1個方向圖，軸線左右兩邊各有8個方向圖，這意味著檢測區域的直徑擴展到24cm。在這個區域內，發射天線基本上建立起了平面波照射。事實上，當收發天線之間的距離為240cm時，入射場的相位變化約為λ/10。本次APC法的幾條掃描線取自距離發射天線2～3m的范圍內，由記錄在掃描線上的17個方向圖從-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的方向圖電平位置求解R值，這些方向圖電平相對應的角度約為50°、60°、70°、75°。對于16dBi的定向天線，取水平面的H切面方向圖來求解R值，并選取其最大值來表征-90°<Ф<90°范圍內的最大反射，部分結果顯示在第5節中。

4 ? 自由空間VSWR法

4.1 ?理論

在做VSWR測試時，發射和接收天線的安排與APC法相同。對于給定的方向角Ф，接收天線在掃描線上連續移動。通過耦合接收天線的線性運動到記錄儀，來記錄通常類似于駐波比曲線測試的干涉方向圖。如圖6所示，該曲線顯示了直射信號與反射信號之間的干涉，它來源于反射的振蕩并疊加到直射信號之上的合成效果。有2種變化類型被觀察到，振蕩的幅度隨反射場位置的復雜變化而變化。由于2個天線掃描的變化、天線之間距離的變化以及遠場條件的變化，干涉圖形的平均電平也隨之發生變化。在圖6的情況下，直射信號的變化主要源于天線方向圖的掃描，參考圖4可以較容易理解這一點，在圖中人為地設置了檢測到的反射信號并使其能量保持恒定。

圖6 ? ?記錄的駐波曲線示例（頻率10GHz、方向角Ф=70°）

駐波曲線的分析基于以下探討，作一個方向圖，相應于角度Ф的方向圖電平為a，它的誤差由記錄的最大VSWR來確定，參見圖6。和APC法一樣，反射電平R由b和c來確定。為求b和c，畫出如圖6所示的包絡線，大致分為兩條，一條連接最大值，另一條連接最小值，選取極限的b和c值以便獲取R的最大值電平。由圖6可以看出，R的最大值出現在a=-36.3dB的方向圖電平上。圖7表明，有可能從圖上找出反射電平低于方向圖電平的dB值。由于a=-36.3dB，得到R為-45.7dB。很明顯，對于同樣的b-c值，R值隨方向圖電平而增加。

假設檢測到的反射信號小于直射信號。從圖4可以看出，不會總是這種情況。很明顯，由于方向圖的零點在某些位置和某些方向角上，直射信號可能小于反射信號。為了描述在這樣的情況下干涉方向圖的分析方法，可參考圖8的示例：

圖8 ? ?干涉方向圖示例（3GHz、a

圖8中，振蕩的幅度隨直射信號的變化而變化，而干涉方向圖的平均電平隨反射場的復雜變化而變化。通過在干涉方向圖的最大電平處來分析，R的最大值可由干涉方向圖的平均電平來確定。在實現這樣的分析之前，有必要鑒別干涉方向圖的直射信號是否小于反射信號。當然，如果天線方向圖是事先已知的，這樣的鑒別不難。如果情況不是這樣，也許可考慮放棄該方向角的信息。但是，作為例子，可通過釆用以下方法來解決這樣的模糊問題：

（1）干涉方向圖考慮在不同的電平上進行3次分析，如圖8所示。每次分析可獲取2個數。由于檢測到的直射信號通常呈比較規則地緩慢變化，所以通?？梢詮牡玫降?個數中指定3個作為檢測到的直射信號電平[9]。

（2）將所得到的檢測方向圖電平以及反射電平的原始數據，與靠近所考慮的方向角所得到的同類數據進行比較，依據R和方向圖電平變化的連續性原理可以解決這個問題。

（3）可以利用反射電平或者方向圖電平的對稱性。

（4）通過引入金屬板或移動吸波材料使反射電平改變，而方向圖電平則被認為是不變的參數。

應該指出，上述的方法可用于識別方向圖電平低于反射電平的情況[9]。

4.2 ?實驗過程

VSWR法的實驗裝置與APC法相同。接收天線沿垂直于接收天線與發射天線連線的水平線移動，掃描長度為24cm。由于方向圖分別為-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的電平對應的指向角約為50°、60°、70°、75°，于是在這些角度上做駐波記錄。這樣做是為了便于將VSWR法所得結果與前述APC法的情況進行對照。相應的結果在第5節中予以描述。

（后文詳見第24期）endprint

再考慮圖2的情況，只取一個反射信號，假設方向圖電平（單位為dB）在角度v上為a，令直射信號Ed、反射信號Er分別同相和反向，令檢測到的場為b、c，則有：

（1）

（2）

（3）

其中，R為反射電平，即反射信號與直射信號之比（單位為dB）。為了得到b和c，將所有實測方向圖疊加到一起，使它們的主瓣峰值電平彼此重合，參見圖5。采用這種方式就可以得到極限值b和c，然后根據文獻[7]和[8]中的曲線或表格，即可計算出R值。根據前述設定可以理解，R不是被測空間內的反射總能量與入射總能量之比，但它與這個比值有某種復雜的相關性。進一步，由于R是方向圖隨接收天線位置變化的度量，因此可用于表征吸波暗室的性能。

圖5 ? ?天線方向圖比較法的測試圖形示范

根據上述討論，所得到的R值很明顯地與推導時所處的方向圖電平位置有關。在APC法中，R值往往以不同的方式取平均，這與操作的工程師有關。由于R值表征了吸波暗室中方向圖的測量精度，所以R的最大值就意味著最大的測試誤差，暗室所宣稱的測量精度水平也就由此給出。

除了R有不同的方式求取平均之外，方向圖的疊加方式也有不同。這主要是由于在測量期間，可以釆用以下的一種或兩種調整方式：

（1）通常的測試安排為圖紙上的0度相應于接收天線指向平行于吸波暗室軸線。也可能按某種方式來調整方向圖記錄，使圖紙上的0度相應于接收天線指向發射天線。在文獻[3]中描述了當接收天線移動和偏離吸波暗室軸線并作調整的情況。在反射的量級很大時，主瓣的方向會發生改變，于是需要做出調整以避免記錄的方向圖出現不正確的疊加。

（2）在測量期間，通過改變接收機的增益，不同方向圖的主瓣在圖紙上調整到了相同電平。調整的目的是認為天線方向圖掃描和天線間距離的變化并不改變直射信號。應該注意，在反射很大并足以影響到主瓣的情況時，這樣的調整不能達到目的。通過在吸波暗室軸線連續移動接收天線來檢測主瓣電平，可以觀察到大反射的情況。如果觀察到的波動明顯達到零點幾個分貝，就屬于大反射。在這種情況下，VSWR法作為一種更好的方法被推薦為用于檢測反射電平。

進行上述調整的意義在文獻中還沒有見到研究。很明顯，調整對最終結果的影響程度取決于實驗裝置以及反射電平的幅度。接下來將描述常用的測量過程。

3.2 ?實驗過程

采用APC法評估了尺寸為2×4×4m3的吸波暗室，在10GHz頻率，使用了典型的16dBi標準增益天線，在發射采用垂直極化時測試方位方向圖。通過在吸波暗室軸線移動被測天線來測量主瓣電平，觀察到由于反射引起的振蕩小于0.2dB。接收機增益做了調整，使不同方向圖的主瓣電平在圖紙上有相同的電平。在分析中，讓主瓣彼此覆蓋來疊加顯示所記錄的方向圖，記錄方向圖的測試點位取自垂直于接收天線和發射天線連線的水平線。測試點位的間隔取半個波長，共記錄了17個離散點位的方向圖。其中，暗室軸線上有1個方向圖，軸線左右兩邊各有8個方向圖，這意味著檢測區域的直徑擴展到24cm。在這個區域內，發射天線基本上建立起了平面波照射。事實上，當收發天線之間的距離為240cm時，入射場的相位變化約為λ/10。本次APC法的幾條掃描線取自距離發射天線2～3m的范圍內，由記錄在掃描線上的17個方向圖從-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的方向圖電平位置求解R值，這些方向圖電平相對應的角度約為50°、60°、70°、75°。對于16dBi的定向天線，取水平面的H切面方向圖來求解R值，并選取其最大值來表征-90°<Ф<90°范圍內的最大反射，部分結果顯示在第5節中。

4 ? 自由空間VSWR法

4.1 ?理論

在做VSWR測試時，發射和接收天線的安排與APC法相同。對于給定的方向角Ф，接收天線在掃描線上連續移動。通過耦合接收天線的線性運動到記錄儀，來記錄通常類似于駐波比曲線測試的干涉方向圖。如圖6所示，該曲線顯示了直射信號與反射信號之間的干涉，它來源于反射的振蕩并疊加到直射信號之上的合成效果。有2種變化類型被觀察到，振蕩的幅度隨反射場位置的復雜變化而變化。由于2個天線掃描的變化、天線之間距離的變化以及遠場條件的變化，干涉圖形的平均電平也隨之發生變化。在圖6的情況下，直射信號的變化主要源于天線方向圖的掃描，參考圖4可以較容易理解這一點，在圖中人為地設置了檢測到的反射信號并使其能量保持恒定。

圖6 ? ?記錄的駐波曲線示例（頻率10GHz、方向角Ф=70°）

駐波曲線的分析基于以下探討，作一個方向圖，相應于角度Ф的方向圖電平為a，它的誤差由記錄的最大VSWR來確定，參見圖6。和APC法一樣，反射電平R由b和c來確定。為求b和c，畫出如圖6所示的包絡線，大致分為兩條，一條連接最大值，另一條連接最小值，選取極限的b和c值以便獲取R的最大值電平。由圖6可以看出，R的最大值出現在a=-36.3dB的方向圖電平上。圖7表明，有可能從圖上找出反射電平低于方向圖電平的dB值。由于a=-36.3dB，得到R為-45.7dB。很明顯，對于同樣的b-c值，R值隨方向圖電平而增加。

假設檢測到的反射信號小于直射信號。從圖4可以看出，不會總是這種情況。很明顯，由于方向圖的零點在某些位置和某些方向角上，直射信號可能小于反射信號。為了描述在這樣的情況下干涉方向圖的分析方法，可參考圖8的示例：

圖8 ? ?干涉方向圖示例（3GHz、a

圖8中，振蕩的幅度隨直射信號的變化而變化，而干涉方向圖的平均電平隨反射場的復雜變化而變化。通過在干涉方向圖的最大電平處來分析，R的最大值可由干涉方向圖的平均電平來確定。在實現這樣的分析之前，有必要鑒別干涉方向圖的直射信號是否小于反射信號。當然，如果天線方向圖是事先已知的，這樣的鑒別不難。如果情況不是這樣，也許可考慮放棄該方向角的信息。但是，作為例子，可通過釆用以下方法來解決這樣的模糊問題：

（1）干涉方向圖考慮在不同的電平上進行3次分析，如圖8所示。每次分析可獲取2個數。由于檢測到的直射信號通常呈比較規則地緩慢變化，所以通?？梢詮牡玫降?個數中指定3個作為檢測到的直射信號電平[9]。

（2）將所得到的檢測方向圖電平以及反射電平的原始數據，與靠近所考慮的方向角所得到的同類數據進行比較，依據R和方向圖電平變化的連續性原理可以解決這個問題。

（3）可以利用反射電平或者方向圖電平的對稱性。

（4）通過引入金屬板或移動吸波材料使反射電平改變，而方向圖電平則被認為是不變的參數。

應該指出，上述的方法可用于識別方向圖電平低于反射電平的情況[9]。

4.2 ?實驗過程

VSWR法的實驗裝置與APC法相同。接收天線沿垂直于接收天線與發射天線連線的水平線移動，掃描長度為24cm。由于方向圖分別為-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的電平對應的指向角約為50°、60°、70°、75°，于是在這些角度上做駐波記錄。這樣做是為了便于將VSWR法所得結果與前述APC法的情況進行對照。相應的結果在第5節中予以描述。

（后文詳見第24期）endprint

再考慮圖2的情況，只取一個反射信號，假設方向圖電平（單位為dB）在角度v上為a，令直射信號Ed、反射信號Er分別同相和反向，令檢測到的場為b、c，則有：

（1）

（2）

（3）

其中，R為反射電平，即反射信號與直射信號之比（單位為dB）。為了得到b和c，將所有實測方向圖疊加到一起，使它們的主瓣峰值電平彼此重合，參見圖5。采用這種方式就可以得到極限值b和c，然后根據文獻[7]和[8]中的曲線或表格，即可計算出R值。根據前述設定可以理解，R不是被測空間內的反射總能量與入射總能量之比，但它與這個比值有某種復雜的相關性。進一步，由于R是方向圖隨接收天線位置變化的度量，因此可用于表征吸波暗室的性能。

圖5 ? ?天線方向圖比較法的測試圖形示范

根據上述討論，所得到的R值很明顯地與推導時所處的方向圖電平位置有關。在APC法中，R值往往以不同的方式取平均，這與操作的工程師有關。由于R值表征了吸波暗室中方向圖的測量精度，所以R的最大值就意味著最大的測試誤差，暗室所宣稱的測量精度水平也就由此給出。

除了R有不同的方式求取平均之外，方向圖的疊加方式也有不同。這主要是由于在測量期間，可以釆用以下的一種或兩種調整方式：

（1）通常的測試安排為圖紙上的0度相應于接收天線指向平行于吸波暗室軸線。也可能按某種方式來調整方向圖記錄，使圖紙上的0度相應于接收天線指向發射天線。在文獻[3]中描述了當接收天線移動和偏離吸波暗室軸線并作調整的情況。在反射的量級很大時，主瓣的方向會發生改變，于是需要做出調整以避免記錄的方向圖出現不正確的疊加。

（2）在測量期間，通過改變接收機的增益，不同方向圖的主瓣在圖紙上調整到了相同電平。調整的目的是認為天線方向圖掃描和天線間距離的變化并不改變直射信號。應該注意，在反射很大并足以影響到主瓣的情況時，這樣的調整不能達到目的。通過在吸波暗室軸線連續移動接收天線來檢測主瓣電平，可以觀察到大反射的情況。如果觀察到的波動明顯達到零點幾個分貝，就屬于大反射。在這種情況下，VSWR法作為一種更好的方法被推薦為用于檢測反射電平。

進行上述調整的意義在文獻中還沒有見到研究。很明顯，調整對最終結果的影響程度取決于實驗裝置以及反射電平的幅度。接下來將描述常用的測量過程。

3.2 ?實驗過程

采用APC法評估了尺寸為2×4×4m3的吸波暗室，在10GHz頻率，使用了典型的16dBi標準增益天線，在發射采用垂直極化時測試方位方向圖。通過在吸波暗室軸線移動被測天線來測量主瓣電平，觀察到由于反射引起的振蕩小于0.2dB。接收機增益做了調整，使不同方向圖的主瓣電平在圖紙上有相同的電平。在分析中，讓主瓣彼此覆蓋來疊加顯示所記錄的方向圖，記錄方向圖的測試點位取自垂直于接收天線和發射天線連線的水平線。測試點位的間隔取半個波長，共記錄了17個離散點位的方向圖。其中，暗室軸線上有1個方向圖，軸線左右兩邊各有8個方向圖，這意味著檢測區域的直徑擴展到24cm。在這個區域內，發射天線基本上建立起了平面波照射。事實上，當收發天線之間的距離為240cm時，入射場的相位變化約為λ/10。本次APC法的幾條掃描線取自距離發射天線2～3m的范圍內，由記錄在掃描線上的17個方向圖從-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的方向圖電平位置求解R值，這些方向圖電平相對應的角度約為50°、60°、70°、75°。對于16dBi的定向天線，取水平面的H切面方向圖來求解R值，并選取其最大值來表征-90°<Ф<90°范圍內的最大反射，部分結果顯示在第5節中。

4 ? 自由空間VSWR法

4.1 ?理論

在做VSWR測試時，發射和接收天線的安排與APC法相同。對于給定的方向角Ф，接收天線在掃描線上連續移動。通過耦合接收天線的線性運動到記錄儀，來記錄通常類似于駐波比曲線測試的干涉方向圖。如圖6所示，該曲線顯示了直射信號與反射信號之間的干涉，它來源于反射的振蕩并疊加到直射信號之上的合成效果。有2種變化類型被觀察到，振蕩的幅度隨反射場位置的復雜變化而變化。由于2個天線掃描的變化、天線之間距離的變化以及遠場條件的變化，干涉圖形的平均電平也隨之發生變化。在圖6的情況下，直射信號的變化主要源于天線方向圖的掃描，參考圖4可以較容易理解這一點，在圖中人為地設置了檢測到的反射信號并使其能量保持恒定。

圖6 ? ?記錄的駐波曲線示例（頻率10GHz、方向角Ф=70°）

駐波曲線的分析基于以下探討，作一個方向圖，相應于角度Ф的方向圖電平為a，它的誤差由記錄的最大VSWR來確定，參見圖6。和APC法一樣，反射電平R由b和c來確定。為求b和c，畫出如圖6所示的包絡線，大致分為兩條，一條連接最大值，另一條連接最小值，選取極限的b和c值以便獲取R的最大值電平。由圖6可以看出，R的最大值出現在a=-36.3dB的方向圖電平上。圖7表明，有可能從圖上找出反射電平低于方向圖電平的dB值。由于a=-36.3dB，得到R為-45.7dB。很明顯，對于同樣的b-c值，R值隨方向圖電平而增加。

假設檢測到的反射信號小于直射信號。從圖4可以看出，不會總是這種情況。很明顯，由于方向圖的零點在某些位置和某些方向角上，直射信號可能小于反射信號。為了描述在這樣的情況下干涉方向圖的分析方法，可參考圖8的示例：

圖8 ? ?干涉方向圖示例（3GHz、a

圖8中，振蕩的幅度隨直射信號的變化而變化，而干涉方向圖的平均電平隨反射場的復雜變化而變化。通過在干涉方向圖的最大電平處來分析，R的最大值可由干涉方向圖的平均電平來確定。在實現這樣的分析之前，有必要鑒別干涉方向圖的直射信號是否小于反射信號。當然，如果天線方向圖是事先已知的，這樣的鑒別不難。如果情況不是這樣，也許可考慮放棄該方向角的信息。但是，作為例子，可通過釆用以下方法來解決這樣的模糊問題：

（1）干涉方向圖考慮在不同的電平上進行3次分析，如圖8所示。每次分析可獲取2個數。由于檢測到的直射信號通常呈比較規則地緩慢變化，所以通?？梢詮牡玫降?個數中指定3個作為檢測到的直射信號電平[9]。

（2）將所得到的檢測方向圖電平以及反射電平的原始數據，與靠近所考慮的方向角所得到的同類數據進行比較，依據R和方向圖電平變化的連續性原理可以解決這個問題。

（3）可以利用反射電平或者方向圖電平的對稱性。

（4）通過引入金屬板或移動吸波材料使反射電平改變，而方向圖電平則被認為是不變的參數。

應該指出，上述的方法可用于識別方向圖電平低于反射電平的情況[9]。

4.2 ?實驗過程

VSWR法的實驗裝置與APC法相同。接收天線沿垂直于接收天線與發射天線連線的水平線移動，掃描長度為24cm。由于方向圖分別為-20dB、-25dB、-30dB、-35dB的電平對應的指向角約為50°、60°、70°、75°，于是在這些角度上做駐波記錄。這樣做是為了便于將VSWR法所得結果與前述APC法的情況進行對照。相應的結果在第5節中予以描述。

（后文詳見第24期）endprint