吳 振,趙 軍,潘巧智,金俊康,王藝錚
(遼寧科技學院 曙光大數據學院,遼寧 本溪 117004)
振頻率檢測是系統測試精度的重要保證,其核心部分為晶振振蕩電路的設計。
在文獻〔1〕、〔2〕中提出了基于如下結構的低頻振蕩電路:
圖1 單非門振蕩電路
該電路僅用了一個非門,具有較高的經濟性,但是實際應用中,發現該電路對低頻晶振,如32.768 KHz、40 KHz的晶振存在參數不易調節,不容易起振現象。同時負載電容C1、C2的存在,導致了振蕩頻率有所偏差。
針對上述不足,本文提出了一種兩非門的振蕩電路。
圖2中,整個電路運用一片74HC04,3 M歐姆電阻為每個非門提供了靜態工作點,該靜態工作點大約為2.5 V,保證兩個非門處于線性放大狀態。C1用于隔直通交。
圖2 兩非門低頻振蕩電路
二非門實現了正反饋,根據文獻〔3〕晶振的等效阻抗在其串聯諧振時候為最小,于是在U1A的輸入端獲得最大輸入值,再通過兩級正反饋后,獲得更大的幅值,理論上具備了起振條件。
圖3為晶振的等效模型。Co為靜電容;L為動態電感;C為動態電容;R為動態電阻。
圖3 晶振等效電路圖
根據文獻〔4〕、〔5〕,低頻晶振的串聯等效阻抗一般為40 K歐姆,大于1 MHz的晶振串聯等效阻抗大約為200歐姆以下,455E晶振大約40歐姆以下。
假設U1A的輸入阻抗為Rin,串聯諧振阻抗為Rs,則反饋系數F為:
F=Rin/(Rin+Rs)
(1)
二非門都處在放大狀態,設整體放大倍數為Av,系統振蕩需要滿足如下起始條件:
Av*Rin/(Rs+Rin)>1
(2)
74 HC系列其輸入阻抗Rin一般為M歐姆級別,對于低頻晶振而言,其反饋系數F較大(接近1),起振容易。但是由于74 HC系列的Tpd較大,在實踐中,發現圖2電路對于1 MHz以上的晶振起振不穩定或者無法起振。
74 LS系列的輸入阻抗較小,對于低頻晶振,其反饋系數F較小,不容易起振;但是,1 MHz以上的晶振的串聯諧振阻抗較??;而74 LS系列數字門的Tpd很小,可以選用74 LS系列的非門替代圖2的設計,如圖4所示。
圖4 兩非門中頻振蕩電路
對電路的測試條件如下:
1)VCC為5.0 V;
2)電阻采用1/8 W,電容為陶瓷電容。
測試結果如下:
圖5(1) 32.768 KHz晶振輸出波形(低頻)
圖5(2)40 KHz晶振輸出波形(低頻)
圖5(3) 455 KHz晶振輸出波形(中頻)
圖5(4) 2.4 576 MHz晶振輸出波形(中頻)
圖5(5)12 MHz晶振輸出波形Vpp=4.4 V
圖5(6) 24 MHz晶振輸出波形Vpp=3.9 V
(1)電路的通用性較好,經過對不同廠家的晶振測試,都能正常起振,無需額外微調。
(2)電路的穩定性好,振蕩頻率穩定,且基本與標稱值一致。
(3)24 MHz晶振的反饋減少,于是出現正弦波,而不是方波,但是幅值滿足一般要求。
(4)由于沒有單非門振蕩電路的負載電容,因此振蕩精度有提升。