激光損傷閾值測試

由西安工業大學蘇俊宏團隊設計、研發的激光損傷閾值測試儀,具有數字化、智能化、集成化特點,操作簡單,全自動測試,激光損傷閾值的測試可一鍵完成。同時采用觸摸屏輸入輸出,具有100～450倍顯微校驗系統,對可疑點可隨時進行校驗。能夠實現光學元件或薄膜的激光損傷閾值測試,還可進行薄膜元件的激光預處理,提高其激光損傷閾值。目前已研制激光損傷閾值測試儀功能樣機,激光輸出波長1 064 nm～532 nm,脈沖寬度10 ns,測試范圍0～100 J·cm-2,測試系統分辨率0.2 J·cm-2。該項目解決了光學薄膜激光損傷閾值的精確檢測,可為激光光學元件、激光薄膜器件的制造等提供硬件支撐,同時適用于材料分析、激光攔截等軍事領域。

整體來看,該項目技術較為成熟,市場空間較大,符合行業的發展方向,技術門檻高,目前市場上沒有競爭者,且研發團隊掌握了多項自主知識產權。隨著大功率激光系統的發展和激光薄膜元件的廣泛應用,器件的激光損傷閾值成為評價其質量好壞的關鍵指標,激光損傷閾值測試儀必將成為光學制造企業的標準配置。