蔡 蕊,萬 鵬,徐 強,呂天明,孫智廣
(大連理工大學 分析測試中心,遼寧 大連 116024)
原子力顯微鏡(atomic force microscope,AFM)[1]是亞微米、納米級形貌[2],納米磁學[3]、電學[4]、力學[5]、生物學[6]研究領域必要的表征手段[7-8].但在微納極窄樣品表征時,AFM 的探針只沿固定方向掃描,無法調整所需角度.若樣品放置的方向不正,受針尖性狀、力學性質等影響[9],不但無法得到高質量掃描圖像,而且還為后期譜圖的處理(拉平基線)制造困難.除此以外,在納米力學摩擦力測試中,對于各向異性樣品的摩擦力測試,需要樣品在特定的方向上進行[10].而現有的AFM,尤其是生物型AFM,在對微納極窄型等需要以一定方向呈現的樣品進行掃描時,無法迅速、可控的變換樣品方向,移動遠距離的掃描位點.
在微納加工時,常使用聚焦離子束(focused ion beam,FIB)對樣品表面原子進行剝離,以完成微納米級表面形貌加工,加工后需要使用AFM 進行形貌表征[11],或者轉移到其他掃描電子顯微鏡(SEM)觀察,以精準測量尺寸等.而這三類儀器在測試過程中,都需要將樣品固定于樣品臺上,保證在測試中不會移動(均為納米級形貌表征,微小移動也會影響濺射、成像的精準度)才可進行測試.而樣品一般比較脆弱,從導電膠上取下再向不同儀器的樣品臺上轉移時十分容易損壞樣品,導致直接碎裂或者鑷子用力夾持導致碎渣崩到樣品表面,影響成像效果,如圖1 所示.
圖1 樣品由于拆卸造成的損壞及對AFM 形貌表征的影響Fig. 1 Damage of sample caused by disassembly and its effect on AFM morphology characterization
為解決以上現有技術的缺點和不足之處,本設計計劃提供一種AFM、SEM 和FIB 的樣品共定位系統,其可實現儀器間樣品無損轉移,并通過參照點的輔助定位找到測試位點,建立起三個重要表征儀器之間的橋梁,還可實現AFM 掃描方向可控、迅速調整位點等功能.
共定位系統(自主研制);原子力顯微鏡Nanowizard 4XP(美國Bruker 公司);超高分辨場發射掃描電子顯微鏡7900F(JEOL 日本電子株式會社);聚焦離子束Helios G4 UX(美國賽默飛世爾科技有限公司);光刻圖案化后的樣品(自制);FIB 濺射后的溝槽樣品(自制);探針SNL-10(美國Bruker 公司).
1.2.1 共定位系統的研發
裝置功能:(1)在AFM 檢測過程中,固定、快速移動樣品(掃描位點),轉換樣品方向.(2)FIB、SEM 和AFM 的樣品共定位系統:AFM、FIB、SEM樣品臺適配模塊,具有輔助定位點(與操作系統XY坐標關聯,實現定位),樣品固定在該模塊上,將模塊放入固定器的卡槽中,即可用于AFM 掃描.將該模塊從卡槽拆卸下來,即可直接作為SEM 和FIB樣品臺,帶著固定好的樣品進行檢測,避免樣品在不同儀器樣品臺間的拆卸轉移過程中受到破壞.
裝置構造及用途:(1)轉盤A,轉盤下方的圓形凸起可嵌入底盤F 的圓形鏤空,且緊密接觸,有一定阻尼,可轉動,但不易打滑.包括:兩根長方形夾棍C,每根夾棍靠兩根彈簧軸B 固定到轉盤兩側,兩根夾棍C 可依靠彈簧B 的推力夾緊樣品或樣品托盤D,防止滑動.把手螺絲E,與底盤F 保持水平位置,擰松把手螺絲E 可作為轉動轉盤A 的把手,擰緊把手螺絲E,螺絲的另一端抵住底盤F 的邊緣,可固定好轉盤.用于調整樣品的角度.腳柱槽H-3用于放置腳柱H-2.(2)底盤F,鐵質或者鋁制,可吸附在AFM 的載物臺上(依靠磁力或吸力),底盤F中心有圓形鏤空,可將轉盤A 嵌入,底盤F 和轉盤A 的接觸位置有一定阻尼,可轉動,但不易打滑.形狀可根據實際調節,不限制.(3)FIB、SEM 樣品臺適配模塊H,因考慮到SEM 不可用帶有磁性的樣品臺,因此模塊H 為鋁制.模塊H 包括類圓形樣品臺H-1 和腳柱H-2,腳柱H-2 取下時為防止丟失可置于轉盤A 上的腳柱槽H-3 中,使用時取出.樣品固定在該模塊的類圓形樣品臺H-1 上,將該類圓形樣品臺H-1 對準位置放入樣品托盤D 的凹槽D-1中,兩邊由夾棍C 夾住,用于AFM 的掃描,通過轉動轉盤A、沿著夾棍C 方向推拉樣品托盤D 改變角度和位置.(4)樣品托盤D,長方形.帶兩種尺寸的凹槽.凹槽D-1:尺寸與普通市售載玻片尺寸吻合.尺寸微小、比較薄的樣品可以先固定在載玻片上,再將載玻片置于此凹槽內,載玻片、樣品托盤D 被夾棍固定住,有阻尼,但可以拖動,可沿著夾棍C 的方向移動樣品,迅速更換掃描位置.凹槽D-2:尺寸與FIB、SEM 樣品臺適配模塊H 中類圓形樣品臺H-1 形狀一致,可放置該類圓形樣品臺H-1,夾棍C夾住后,隨樣品托盤D 移動.如圖2 所示.
圖2 共定位系統整體及分解圖Fig. 2 Overall and decomposition diagrams of co-positioning system
類圓形樣品臺H-1 取下后可直接作為SEM 樣品臺使用.底部中央有螺紋孔,腳柱H-2 的螺紋和尺寸與SEM 內用于固定樣品臺的螺紋柱尺寸一致,可通用.將該模塊的類圓形樣品臺H-1 從樣品托盤D 的凹槽D-1 中拆卸下來,即可直接擰在SEM 樣品臺固定位置,作為SEM 樣品臺直接用于測試, 具有輔助定位點(與操作系統XY 坐標關聯,實現定位).類圓形樣品臺H-1 擰上與之匹配的腳柱H-2,即可作為FIB 樣品臺,用于FIB 的濺射等操作.該適配模塊H 的尺寸適用于大部分品牌的FIB 和SEM 儀器,或根據SEM、FIB 所需具體的尺寸制作.腳柱H-2 尺寸較小,為防止丟失,不使用時可放置于轉盤A 上的特定腳柱槽H-3 內保存.該適配模塊H 無需將固定好的樣品取下來轉移到另外的樣品臺上,可避免樣品在不同儀器樣品臺的拆卸轉移過程中受到破壞,具有保護測試樣品、便捷、實用性強等優點.
1.2.2 微納表面形貌表征方法
AFM 形貌表征條件:將微納圖案化樣品或由FIB 濺射的溝槽樣品置于自主研制的共定位系統上,導電膠粘牢,且保證水平.頂置10X 光鏡XY 坐標協助定位.使用Quantitative Imaging(QI)模式,Setpoint 為 0.3 V,Zlength 為 200 nm,Zspeed 為 77μm/s.SEM 形貌表征測試加速電壓為10 kV.
以光刻圖案化后的樣品為案例,對設計的共定位系統進行應用.極紫外光刻材料的研發一直是半導體芯片產業的瓶頸之一[12],開發新型極紫外光刻膠材料具有重大的戰略意義.光刻膠膜表面形貌和粗糙度是評價光刻膠質量的重要指標[13-16].圖案化的光刻有機膜,需要使用AFM 和SEM 表征證實其在電子束光刻和極紫外光刻測試中的表現.使用本文設計的共定位系統,可以很好實現該樣品在SEM、FIB 和AFM 之間的轉換和樣品定位,并且在AFM表征中輕松實現方向調整和樣品快速移位.
如圖3 所示,光刻圖案化后的樣品(自制)需要先在SEM 或FIB 上進行電子束光刻蝕,刻蝕完畢后,在AFM 上進行粗糙度測試以及3D 成像.使用所設計的共定位系統中的適配模塊H 作為樣品臺,實現了樣品在三種儀器間的自由切換,無需拆卸,避免了樣品損傷,還可以使用共定位功能,鎖定目標區域分別進行SEM、AFM 成像,操作便捷,節省了大量時間.除此之外,以溝槽樣品(自制)作為樣本,使用AFM 測試其溝槽的尺寸時,調整濺射的參數后,需要先在FIB 上完成濺射,再置于AFM 上成像和測量.若溝槽放置傾斜,會使計算存在偏差或成像出現瑕疵.因此需要將溝槽角度調整于合適方向.
圖3 圖案化微納有機膜表面SEM、AFM 表征Fig. 3 Characterization of SEM and AFM on surface of patterned micro-nano organic films
如圖4 所示,使用所設計的適配模塊H 固定樣品,先后進行了FIB 和AFM 測試,利用所設計的共定位系統使得操作簡便,并且測試結果優異.
圖4 固定于FIB、SEM 樣品臺適配模塊H 的類圓形樣品臺H-1 上的FIB 濺射后的溝槽樣品,需要測試其溝槽尺寸(a)經AFM 表征,發現溝槽方向傾斜,(b)經轉盤調整角度后,擺正方向Fig. 4 Groove samples after FIB sputtering fixed on disklike sample stage H-1 of FIB and SEM sample tables adaptation module H, tested size of groove(a) groove direction was tilted after AFM characterization,(b) groove positioned in right direction after adjusting angle of turntable
與現有的技術相比,所設計的共定位系統可建立AFM、SEM 和FIB 三大形貌表征儀器之間的橋梁,不但可以保護珍貴樣品不被損壞,還可大幅提高樣品測試效率以及效果.另外,其快速移位和變換方向功能可大幅提升方向依賴形貌、磁學、摩擦力等測試的成功率和圖像效果,并且提升原有載物臺的樣品測試范圍和速度,方便快捷,實用性強.